数字式逻辑状态测试器

数字式逻辑状态测试器
在数字电路中常常需要对电路中某点的数字状态进行检测，以判断电路是否工作正常，通常情况下万用表只能测出稳定的高或低电平，当被测点状态不断改变时，用万用表测量就很困难，此时只能用示波器来观测。本文介绍一种数字式逻辑状态测试器，它可以简单地判断出被测点的高、低电平状态，以及是否工作在变化状态。
电路如下图所示，工作原理说明如下：
电路中的IC1 为CD4011，为4 与非门。当探针P 悬空时，发光二极管LED2 熄灭，LED1 亦不点亮。当检测探针P 触到高电平“1”时，其二极管D1 导通，使得与非门的8、9 脚由低电平跳变到高电平，则与非门的11 脚输出高电平，故发光二极管LED1 导通而发出红色光。当探针P 触到低电平时，二极管D2 导通，使得与非门的1、2 脚为低电平，则与非门的4 脚为低电平，故发光二极管LED2 导通而发出绿色光。当测试点为低速脉冲串时，则发光二极管LED1 和LED2 交替点亮。如果测试点为高速脉冲串（占空比1：1）时，则LED1 和LED2 均点亮且无闪烁现象。测试点的高速脉冲串的占空比不为1：1 时，则其中一个发光二极管点亮，而另一个发光二极管微亮或出现闪烁

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