常用元器件好坏的判定方法

电阻：用外用表的两个表笔分别和电阻器的两端相接，如果显示0或数字不停的变动或显示的数字与电阻器上的标示值相差很大，则说明电阻器已损坏。如果与电阻上表示值相等或接近，则表示该电阻正常。电容：1uF以下选20K档     1uF-100uF用2K档   100uF以上用200档     红笔接电容器的正极，黑笔接电容器的负极。如果显示值从000开始逐渐增加，最后显示溢出符号1，表明电容器正常。如果万用表始终显示000则说明电容内部短路；如果始终显示1，则可能是电容器内部极间断路。电感：将数字万用表量程开关拨至合适的电感档，然后将电感器的两个引脚与两个表笔相连即可从显示屏上显示出该电感器的电感量。若显示的电感量与标称电感量相近，则说明该电感器正常；若显示的电感量与标称值相差很多，则说明该电感器有问题。（保险的检测方法同电感一样）      方法二.用数字万用表的二极管档测量电感的电阻值，如果在零点几欧到几欧之间，则表明该电感正常。如果电阻很大，说明电感线圈中有几股断线；电阻值为零说明电感线圈严重短路。二极管：正负极判断：将万用表的两只表笔分别接触二极管的两个电极，若测出的电阻约为几十、几百欧或几千欧，则黑表笔所接触的电极为二极管的正极，红表笔所接触的电极为二极管的负极。好坏判断：将万用表的两个表笔分别链接二极管的两个引脚，然后再将两个表笔分别对调连接二极管的两个引脚，然后对比显示屏的测量结果。如果测量的正反向电阻值均为1，则二极管内部断路。如果正反向电阻值均为0，则二极管内部被击穿短路。如果正反向电阻值相差不大，则二极管质量太差，不能使用。如果正反向电阻值相差较大，则该二极管正常。三极管：先找基极b：红笔固定任接某个引脚，用黑笔依次接触其他两个引脚。如果两次显示值均小于1V或都显示溢出符号1，则红笔所接的引脚就是基极b。如果在两次测试中，一次显示值小于1V，另一次显示溢出符号1，表明红笔接的引脚不是基极b，此时应换其他引脚重新测量，直到找出基极b。再测型号：将数字万用表置于二极管档，将红笔接基极b，用黑表笔先后接触其他两个引脚。如果都显示0.500V~0.800V，则被测管属于NPN型；若两次都显示溢出符号1，则表明被测管属于PNP型。进而测好坏：以NPN型为例。将基极b开路，测量c、e间的电路。万用表红笔接发射极，黑笔接集电极，若阻值较高（几十千欧以上），则说明穿透电流较小，管子能正常工作。若c、e极间电阻小，则穿透电流大，受温度影响大，工作不稳定。在技术指标要求高的电路中不能使用这种管子。若测得阻值近似为0，表明管子已被击穿，若阻值为无穷大，则说明管子内部已断路。场效应管：原理：当栅极接的负偏压增大时，沟道减少，漏极电流减少。当栅极接的负偏压减少时，耗尽层减小，沟道增大，漏极电流增大。所以说场效应管是电压控制器件，即通过输入电压的变化来控制输出电流的变化，从而达到放大等目的。判断：方法一.将黑表笔接触D，红表笔先接触S，此时有阻值（515欧左右）；将红笔接触G，阻值为1；将红表笔再次接触S，导通（001欧）；放电：红表笔接触D，黑表笔接触G。           方法二.将万用表放到R*100档，两表笔分别接漏极D和源极S，然后用手握住螺丝刀的绝缘柄，再用螺丝刀的金属杆接触栅极G（注入感应电压），万用表的显示屏中的数字将会变大或变小，数字变化越大说明场效应管的放大能力越强，如果数字不变，则该场效应管已损坏。串口管理芯片：测量串口插座到串口管理芯片中的数据线对地阻值，如串口管理芯片正常，所有数据线对地阻值应该相同，如果不同，则说明串口管理芯片损坏。BIOS芯片：首先检测供电是否正常，测量Vcc脚和Vpp脚的电压，如果电压不正常，检测主板电源插座到BIOS芯片的Vcc和Vpp脚之间的电路总的元器件故障；如果供电正常，接着测量BIOS芯片的CE/CS脚是否有片选信号，如果没有则说明CPU没有选中BIOS，故障应该出现在CPU本身和前端总线，检查CPU和前端总线的故障，并排除故障；如果可以检测到片选信号，接着检测BIOS芯片的OE脚是否有跳变信号，如果没有则是南桥或I/O芯片或PCI总线的故障所致，重点检查南桥或I/O芯片；如果能测到跳变信号，则可能是BIOS内部的程序损坏或BIOS芯片损坏，可以先刷新BIOS的程序，如果故障没有排除，则更换BIOS芯片。CMOS电池：用万用表测量其电压，2.6V-3V左右为正常。低压差三端稳压器1117：带电测试1117的中间脚的电压值大小，如果为0或小于3V，则该稳压器损坏。（进5v输出3.3v）32.768晶振：用万用表直流20v档，红黑表笔分别接晶振的两个引脚，测试其两个引脚的电压差，如果为0.2v左右表明晶振正常。另外可以用开关机方法测量，如果用手捏住万用表表笔去接触晶振的一个脚时，主板能开机，再接触另一个脚时能关机，则说明晶振损坏。电源管理芯片：首先测量芯片的供电脚（5v或12v）有无电压，如有，接着测量电源管理芯片的输出脚和PG信号脚有无电压信号，如果无电压信号，则是电源管理芯片损坏。（加电保护80%是场效应管坏，很少是IC坏）LM358芯片：该芯片损坏后，其输出端无电压信号输出，将无法控制场效应管工作，无法为内存提供供电。判断方法：首先测量芯片的供电脚有无12v电压，如果，接着测量电源管理芯片的输出脚有无电压信号，如果无电压信号，测量LM358芯片的正相输入脚有无2.5v电压，如果，则是LM358芯片损坏，如不是则可能是分压电阻（R1、R2）损坏。14.318晶振：用示波器测晶振两脚的波形和两脚之间的阻值。如晶振的两脚有波形且两脚之间的阻值在450-700欧之间，则晶振正常。系统时钟发生器芯片：该芯片损坏将导致主板无法启动。检测方法：测量晶振两脚的电压（正常情况下晶振两脚各有1v左右的电压），如果有电压说明系统时钟芯片内部的分频器正常，否则分频器损坏。接着测量PCI插槽的B16针脚和ISA插槽的B30针脚的时钟信号，如果没有则是系统时钟发生器芯片损坏。门电路芯片：该芯片损坏将导致主板的复位电路无复位信号，首先检测门电路芯片的供电脚有无供电，如没有检测电源插座到门电路芯片的Vcc引脚间的线路中的故障元器件；如有接着检测门电路芯片链接南桥的针脚有无高电平信号，如没有则是南桥坏，如有则是门电路芯片坏。

实用，经典总结

学习，学习。

很详细实用

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